Inspection de semi-conducteurs : partenariat entre le CEA-Leti et Attolight

Le 05/12/2012 à 0:00  
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Le CEA-Leti et la start-up suisse Attolight, spécialisée dans les équipements de caractérisation des matériaux pour les laboratoires de recherche et l’industrie des semi-conducteurs, ont signé un accord de partenariat. Celui-ci vise à mettre au point les applications de la cathodoluminescence (une technique de mesure au cœur du métier d’Attolight) dans la caractérisation non destructive des semi-conducteurs. La solution de la société suisse associe des microscopes électronique et optique. Elle met en évidence des impuretés ou des défauts cristallins invisibles avec d’autres techniques d’imagerie. "Grâce à un système de cathodoluminescence intégré, notre solution génère des données quantitatives de haute résolution pour la recherche avancée sur les matériaux", souligne Olivier Gougeon, directeur ventes et marketing d’Attolight. "Ce nouveau système viendra compléter l’offre de la plateforme de nanocaractérisation (PFNC) du campus Minatec dans le domaine de l’analyse des matériaux. Il s’agit d’une offre unique en la matière. Grâce à l’expérience d’Attolight, l’Institut Leti pourra intégrer rapidement cette technologie", ajoute Narciso Gambacorti, responsable du programme nanocaractérisation de l’Institut Leti.
- 5 décembre 2012 -

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