Analyseurs de paramètres S

Le 28/02/2011 à 9:23  

Lecroy lance une la gamme d’instruments Sparq spécifiquement conçue
pour la mesure des paramètres S pour la caractérisation de composants passifs jusqu’à 40 GHz.
# Appareils sans face avant piloté par un PC
# Dotés de 2 ou 4 ports
# Résultats fournis dans les domaines fréquentiel et temporel, et retranscrits dans un fichier au format Touchstone utilisable par un logiciel de simulation
# Kit de calibration OSLT interne à l’appareil pour procéder à la calibration automatique et aux mesures par la pression d’une seule pression sans déconnecter et reconnecter les accessoires de calibration
# Calibrations manuelles possible en utilisant un kit de calibration externe
# Livré avec les outils matériels et logiciels nécessaires pour effectuer des mesures de paramètres-S en mode direct, différentiel ou mixte (amplitude et phase) et visualisation du résultat dans le domaine temporel (réponse d’échelon, réponse impulsionnelle, rho et Z normalisés pour un temps de montée réglable)
# Les courbes TDR et TDT peuvent également être visualisées
# Visualisation jusqu’à 16 courbes résultats de paramètres-S simultanément, avec la possibilité de réaliser des zooms et d’effectuer des calculs mathématiques
# 3 modèles sont disponibles: SPARQ-4004E (40 GHz, 4 ports, calibration interne), SPARQ-4002E (40 GHz,
2 ports, calibration interne), SPARQ-4002M (40 GHz, 2 ports, calibration manuelle)

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