Durant la période estivale, début août, l’américain National Instruments donne rendez-vous à ses clients, partenaires et intégrateurs à Austin (Texas) pour la grand-messe NIWeek. L’année 2014 n’a pas dérogé à la règle et c’est ainsi que la 20e édition a réuni plus de 3 200 visiteurs et environ 120 exposants lors de ces quatre jours de conférences techniques et d’exposition. Parmi la foultitude de nouveautés dévoilées lors de la manifestation, on retrouve entre autres la version 2014 de LabView et l’instrument tout-en-un VirtualBench ainsi qu’un nouveau contrôleur CompactRIO haute performance sous Linux, le système sur module (SOM) sbRIO-9651 (voir ci-dessus), la suite logicielle InsightCM Enterprise, de nouveaux instruments de mesure « conçus par logiciel » et la plate-forme de test de semiconducteurs STS. « InsightCM Enterprise, constitué d’InsightCM Server et d’InsightCM Data Explorer, est un outil clé en main pour la surveillance des machines tournantes. Les ingénieurs peuvent ainsi facilement gérer la communication entre les nœuds de systèmes et l’infrastructure IT », explique Richard Keromen, MED technical marketing team leader chez National Instruments. En complément du VST (Vector Signal Transceiver), les nouveaux instruments « conçus par logiciel », à savoir intégrant un FPGA ouvert, au format PXI Express (PXIe) sont l’analyseur de signal 26,5 GHz PXIe-5668R, un numériseur 12 bits de FI PXIe-5624R, l’oscilloscope 14 bits PXIe-517xR et le module série haute vitesse PXIe-6591R.
La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.