ICT avec test sans vecteur amélioré

Le 05/01/2007 à 0:00  

Agilent Technologies propose une version améliorée de son système de test sans vecteur VTEP, destiné à détecter les circuits ouverts à l'aide de ses testeurs de cartes in-situ Medalist i5000 (ainsi que les systèmes 3070). La version iVTEP peut être utilisée sur les composants présentant des géométries ultra-fines, avec des contacts miniatures ou des composants masqués par un disperseur de chaleur.
· Utilisable avec les interfaces matériel VTEP existantes (il suffit de télécharger un patch logiciel)
· Rappel de quelques caractéristiques du Medalist i5000 :
- architecture "pure pin" (pas de multiplexage, un driver source/récepteur par broche)
- 5 184 points de test (à raison de 144 points par carte)
- jusqu'à 20 alimentations programmables
- fréquence de mesure : 60 MHz

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