Le contrôleur modulaire pour test boundary-scan

Le 12/01/2009 à 10:37  

JTAG Technologies, fournisseur de solutions de test et de programmation in situ de cartes électroniques reposant sur la norme IEEE 1149.x, annonce l'intégration de boundary-scan au sein des systèmes de test in situ Agilent 3070. Le nouveau contrôleur JT 37x7 / APC combine, dans un seul et même module enfichable, tous les éléments matériels nécessaires à une solution boundary-scan pour le test et la programmation in situ de cartes.
· Entièrement compatible avec un emplacement pour carte d'extension 3070 simple densité
· Incorpore un contrôleur TSI de JTAG Technologies aux fonctionnalités complètes ainsi qu'un conditionneur de signal pour quatre ports TAP boundary-scan à haut débit
· Soutient une fréquence d'horloge de 40 MHz
· Reprend la totalité des caractéristiques de la gamme DataBlasterTM, notamment une mémoire image extensible, un mode autonome, des tensions programmables et la technologie AutoWriteTM pour la programmation flash rapide
· Possibilité d'isoler la masse de la carte sous test pendant un test hors tension
· S'interface au contrôleur de la tête de test du 3070 via un port Ethernet et est alimenté à partir de la carte-mère du 3070
· Ni connexions externes ni câbles en nappe ne sont nécessaires entre les sorties APC et l'interface de test, les signaux passant par les broches normales MINT (Module INTerface)
· Logiciel d'exécution Symphony destiné au 3070 est disponible pour les systèmes d'exploitation HP-UX et Windows  

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