Logiciel de gestion des tests pour semi-conducteurs

Le 24/04/2016 à 16:33

# Programmation dynamique multisite pour réutiliser du code sur plusieurs sites de test selon les besoins

# Éditeur de mappage de broches incluant la technologie PXI et des instruments tiers

# Processeur de résultats au format STDF pour l'enregistrement de résultats de tests paramétriques standard

# Interfaces prober/manipulateur pour obtenir des systèmes de test plus « intelligents »

# Réduction significative des coûts de développement et augmentation de la capacité de production

National Instruments France

www.ni.com

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