Module de test IEEE 1149

Le 25/05/2009 à 16:50  

JTAG Technologies lance un module compact PIOS (Pod I/O Scan) JT 2149/MPV, offrant un accès de test d'Entrées/Sorties numériques pour les cartes nécessitant des stimuli d'E/S externes.
· S'installe dans l'émetteur/récepteur QuadPod du constructeur
· Connecté à une carte de circuits via un connecteur ou des broches d'interface de test, le module optimise les tests d'interconnexion en stimulant les connexions de la carte en synchronisation avec les composants boundary-scan natifs
· Intègre une logique programmable ainsi qu'un oscillateur qui peut être lui aussi programmé pour l'exécution de tests fonctionnels ou à base de séquences plus spécifiques
· Etend la couverture boundary-scan pour y inclure le test des connecteurs de bord en procurant des points de test supplémentaires internes sur la carte afin d'améliorer la détection des défauts
· Occupe un seul port TAP (Test Access Port) sur le QuadPod
· Rétrocompatibilité avec les autres systèmes de test d'E/S boundary-scan JTAG est assurée par la simulation des anciens composants DIOS
· Seuils de sortie comme d'entrée programmables pour des tensions de 1,5 V, 1,8 V, 2,5 V et 3,3 V
· Canaux d'E/S regroupés en blocs de 16
· Canaux d'E/S programmables séparément en tant que signaux d'entrée, de sortie, bidirectionnels ou à trois états