Modules PXI pour le test de semi-conducteurs

Le 12/03/2012 à 21:08  

National Instruments étoffe les capacités de sa plate-forme PXI en matière de caractérisation et de test de production des semi-conducteurs avec les modules PPMU (unités de mesure paramétrique par broche) et SMU (unités de source et mesure).
• Module PPMU NI PXIe-6556 :
- 24 entrées/sorties numériques avec des capacités de mesures pour chaque broche
- 4 canaux de contrôle
- Génération et acquisition sur la même broche d’un signal numérique à une fréquence allant jusqu’à 200 MHz
- Génération et absorption de courant de 32 mA par canal
- Mesures paramétriques DC avec une précision de 1 %
- Résolution temporelle : 30 ps
- Fonction intégrée de calibrage du cadencement afin de déterminer la longueur des câbles et d’ajuster le cadencement en conséquence
• Modules SMU NI PXIe-4140 et NI PXIe-4141 :
- 4  voies de mesures et de génération
- Fréquence d’échantillonnage : jusqu’à 600 kéch./s
- Sortie : ± 10 V à ± 100 mA en fonctionnement quatre quadrant
- Sensibilité de mesure de courant : 10 pA
- Technologie Source Adapt pour personnaliser la réponse en sortie du SMU à une charge donnée, pour optimiser la stabilité et les temps de transitoires.

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