Solution de test USB

Le 05/10/2009 à 21:00  

Tektronix a présenté une nouvelle série de tests complète pour la caractérisation, le débogage et la conformité des périphériques Superspeed USB (USB 3.0). Combinée à l'oscilloscope DPO/DSA70000B, la nouvelle option USB-TX constitue une solution automatisée pour valider les périphériques de transmission USB 3.0.
· Prise en charge de tous les types de mesures, notamment les tests normatifs et informatifs suivants : SSC (Spread Spectrum Clocking), vitesse des fronts, niveaux de tension, etc.
· Propose une série de tests pour la caractérisation, le débogage et la conformité
· Connectique de test enfichable (Plug style) pour une analyse au plus près du silicium
· Ensemble de connectiques  de test USB 3.0 pour procéder à des tests plus précis d'émetteurs, de récepteurs et de câbles
· L'option USB-TX est basée sur l'environnement TekExpress qui a été développé pour tester automatiquement les normes de données série haute vitesse en une seule opération
· Les modules TekExpress s'appuient quant à eux sur les exigences de test et les méthodes de mise en œuvre (MOI) telles que définies et publiées par les organismes de normalisation
· Toutes les procédures de test sont automatisées : sélection des tests requis pour ensuite obtenir les résultats sous forme de rapport détaillé
· Outre la nouvelle offre USB 3.0, les modules d'automatisation sont également disponibles pour SATA et DisplayPort  

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