Support de test pour circuits intégrés

Le 06/09/2007 à 0:00  

Yamaichi Electronics étoffe sa gamme de supports de test avec le modèle Yvertical, qui se présente sous la forme d'une carte verticale équipée de contacts à ressorts miniaturisés pour le test de puces CSP et flip chips sur les wafers.
· Miniaturisation des pointes de test (0,1 mm de diamètre)
· Jusqu'à 2 000 points de test avec des espacements de 200 µm
· Force de contact : 4,5 g
· Contacts entre les pointes de test et la carte assurés grâce à la technologie Yflex (circuit imprimé multicouches souple, revêtu d'un film conducteur)

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