Systèmes de tests de semi-conducteurs

Le 04/03/2008 à 0:00  

Les testeurs paramétriques de la série S600 de Keithley s'adressent aux fabricants de puces et aux fondeurs de tranches de silicium. Ces produits proposent notamment le test DC-RF sur tranche sur une même plateforme, et l'automatisation SECS/GEM pour 200 et 300mm.
· Système d'exploitation Linux implanté dans l'ordinateur de contrôle, lui-même intégré dans chaque système
· Logiciel breveté utilisant une clé (étui USB) pour chaque appareil de test
· Fonctionnement assuré d'un contrôleur Linux nouvellement installé avec les systèmes existants fonctionnant sous Solaris
· Mises à jour disponibles pour le passage en 100% Linux
· Version du logiciel KTE V5.2.2 livrée pour toute acquisition, ou disponible sous forme de mise à jour
· Produits dotés de la version 4.4 du logiciel Red Hat Enterprise

La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.

Dans la même rubrique

Copy link
Powered by Social Snap