Test de caractérisation I/V en impulsions

Le 10/10/2005 à 0:00  
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Keithley étoffe son testeur de caractérisation de table 4200-SCS. Destinée à être intégrée dans ce testeur, l'option PIV permet de réaliser des tests I/V et C/V de composants électroniques en mode "impulsions". Cela permet de réaliser des mesures plus précises, en évitant par exemple l'auto-échauffement des composants.
· Modèle de base 4200-SCS
- mesures en continu
- tracé graphique de la caractéristique I/V
- résolution inférieure au femtoampère
- PC sous WindowsXP intégré
· Option PIV
- caractérisation en impulsions
- générateur d'impulsion 2 voies 1 Hz à 50 MHz (largeurs d'impulsions de 20 ns)
- possibilité de contrôler la largeur, le temps de répétition, les temps de montée et de descente, l'amplitude et l'offset des impulsions
· Applications : caractérisation de semi-conducteurs (notamment ceux avec coefficient "k" élevé), de microstructures MEMS, de composants optoélectroniques, de matériaux, etc.

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