Test JTAG des réseaux LVDS

Le 15/04/2007 à 0:00  

Avec JTAG ProVision, JTAG Technologies propose désormais le test boundary-scan selon la nouvelle norme IEEE 1149.6, qui est une extension majeure des spécifications originales boundary-scan 1149.1.
· Possibilité de tester désormais les interfaces numériques utilisant des signaux analogiques LVDS (Low Voltage Differential Signaling) ou à couplage alternatif
· La norme IEEE 1149.6 surmonte des limitations importantes de l'IEEE1149.1 :
- un circuit électronique pouvait fonctionner à bas débit et réussir le test 1149.1, mais se montrer défaillant en fonctionnement normal à haut débit
- inversement, l'effet de blocage du courant continu dû au couplage alternatif pouvait causer un échec du test 1149.1, faisant croire à un circuit ouvert
· Réalisation automatique d'un test exhaustif, se fondant sur la liste de description du circuit (Net List), les fichiers BSDL 1149.6 et les fichiers de modélisation des composants employés.
· Génération d'un rapport de diagnostic indiquant précisément la cause de la défaillance, y compris en isolant chaque défaut en cas de défauts multiples (possibilité d'utiliser JTAG Visualizer, autre outil de JTAG Technologies, pour analyser le rapport de défauts)

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