Testeur in-situ "pure pin"

Le 20/07/2005 à 0:00  

Agilent Technologies introduit le testeur de cartes in-situ Medalist i5000 à architecture non multiplexée. Celui-ci permet de ramener à 5 ou 7 jours le temps de développement des interfaces et des programmes de test (contre 9 à 10 jours pour les testeurs classiques à architecture distribuée).
· 5 184 points de test
· 144 points de test par carte drivers/mesures
· Jusqu'à 20 alimentations programmables
· Vitesse de tests : plus de 6 millions de vecteurs par seconde
· Tensions de test de 0,8 V à 100 V

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