La plate-forme NI-VISN-100 RFID commercialisée par Arcale autorise le test
de conformité de périphériques RFID (identification radiofréquences). Elle est basée sur du matériel de National Instruments, comprenant un élévateur de fréquence 2,7 GHz, un abaisseur de fréquence 2,7 GHz et une carte FPGA NI IF RIO pour générer et acquérir les signaux à fréquences intermédiaires.
# Propose un ensemble de bibliothèques logicielles développées par VISN
# Mode émulation d’un lecteur et d’un tag RFID
# Mode espionnage d’une communication RFID
# Génération et analyse de signaux RFID pour les normes RFID ISO 14443 Type A et B, ISO 15693, ISO 18000-3 Mode 1 et 2, I Code 1, ISO 18092 NFC, EPC HF Class 1, ISO 18000-6 Type A, B et C, EPC UHF Class 1 Generation 2, ISO 18000-4 Mode 1
Accueil » Instrumentation » Mesure électronique / électrique » Testeur RFID au format PXI
Dans la même rubrique
Lecture offerte
Le 28/04/2025 à 15:52 par Camille Paschal
Anritsu améliore les capacités de ses analyseurs de spectre
Anritsu annonce l’extension de la bande passante d’analyse ainsi que l’ajout d’une option de générateur de poursuite pour les analyseurs…
Lecture offerte
Le 24/04/2025 à 9:12 par Camille Paschal
Le scanner de sécurité de Rohde & Schwarz certifié par la CEAC
Les capacités de détection du scanner QPS Walk2000 de Rohde & Schwarz ont été approuvées par la Conférence européenne de…
Lecture offerte
Le 17/04/2025 à 9:08 par Camille Paschal
Keysight présente un banc de test de sécurité embarqué nouvelle génération
Keysight Technologies annonce le lancement du banc de test de sécurité embarqué nouvelle génération. (suite…)
Lecture offerte
Le 15/04/2025 à 17:11 par Charlotte Huguerre-Cousin
Anritsu teste la technologie RIS développée par l’ETRI
La solution aide les équipes de recherche qui préparent la technologie RIS au déploiement commercial dans l'ère 5G-Advanced et 6G…