Niton présente l'analyseur portable XLt 797 X "Small-Spot". Doté d'une caméra couleur et d'un spot d'analyse de 3 mm de diamètre, le XLt 797 X est capable d'analyser individuellement les composants d'une carte électronique. Il vise tout particulièrement les applications de recherche des substances dangereuses interdites par les directives européennes RoHS et DEEE.
· Principe : méthode XRF (spectroscopie à fluorescence des rayons X)
· Analyse non destructive du cadmium, plomb, mercure, chrome, brome et des éléments constituants additionnels.
· Durée de l'analyse : inférieure à 30 secondes
· Caméra couleur CCD pour visualiser la zone à analyser
· Logiciel d'exploitation NDTde Niton (affichage de l'image de l'échantillon sur écran PC)
· Illumination interne par LED pour optimiser la qualité des images, souvent prises à très courte distance