Newport vient d'introduire deux nouveaux modules de logiciels qui étendent l'utilisation des mini-spectromètres de la série OSM aux domaines de la mesure d'épaisseur des couches minces et de l'analyse colorimétrique.
· Module "analyse colorimétrique"
- Destiné aux milieux de la verrerie, de l'imprimerie, du textile,…
- Utilise les espaces de couleurs standards Din, Yxy, HunterLab, CMC, CIE, CIE L*a*b*…
- Détermination de la température de couleur d'une source
- Différents outils mathématiques pour la manipulation et l'analyse des spectres
· Module "mesure d'épaisseur"
- Destiné aux domaines des semiconducteurs et des plastiques
- Permet de mesurer jusqu'à trois couches distinctes de matériaux d'épaisseur comprises entre 0,1 à 20 µm chacune
- Algorithme de calcul des épaisseurs à partir des spectres d'interférences obtenus dans les domaines du visible et du proche infrarouge