L’américain Olympus, fabricant spécialisé notamment dans les solutions d'inspection, d'analyse et d'imagerie, vient de dévoiler l’analyseur de fluorescence des rayons X (XRF) portable Vanta. Conforme IP65 et MIL-STD 810G, résistant à des températures comprise entre -10 et +50 °C, il a été conçu pour les applications en environnements difficiles, telles que l'identification positive des matériaux (PMI), le recyclage des déchets et la réduction des réparations pendant l'extraction.
Le nouvel analyseur XRF intègre par ailleurs la technologie propriétaire Axon (un traitement du signal XRF via une électronique à ultra faible bruit) qui permet de fournir un taux de comptage des rayons X par seconde plus élevé et des résultats plus rapides encore. Les modèles de la série C se distinguent donc d’une vitesse d’analyse supérieure, de limites de détection basses et d’une gamme étendue d’éléments analysés (plus de 700 alliages métalliques en mémoire).
Ces modèles sont équipés d’un tube à rayons X de 40 kV avec anode au tungstène ou au rhodium, ou d’un tube à rayons X avec anode en argent, et d’un détecteur au silicium à diffusion. Quant aux modèles de la série M, ils intègrent un tube à rayons X de 50 kV avec une anode au tungstène ou au rhodium et un détecteur au silicium à diffusion de grande surface. Parmi les autres caractéristiques, citons un écran tactile, un écran d'accueil personnalisable, les interfaces Wi-Fi et Bluetooth en option, un GPS intégré, etc.
