Système AFM-Raman à amélioration de pointes

Le 31/05/2013 à 12:47  

Brüker a introduit des sondes à fort contraste pour son système Innova-IRIS (Integrated AFM-Raman Imaging System) destiné à l’analyse des matériaux à l’échelle nanométrique. Elles permettent d'exploiter la technique émergente de spectroscopie Raman à amélioration des pointes TERS (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy) qui associe cette spectroscopie à la microscopie à forces atomiques (AFM).
# Longueur d’onde d’excitation : 633 ou 785 nm
# Amélioration jusqu’à un facteur 10
# Obtention d’informations combinées sur la chimie (détection sans marquages) ou la cristallographie, avec des résolutions spatiales et spectrales élevées
# Analyse des échantillons opaques via une rétroaction avec un microscope à effet tunnel
# Meilleure préservation des pointes et dérive très faible, garantissant le maintien de l'alignement même pendant l'intégration optique nécessaire pour interroger des diffuseurs Raman faibles
# Compatible avec tous les systèmes Innova-IRIS via une simple cartouche spécifique
# 10 sondes en or et 2 échantillons de vert de malachite par kit

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