TSI porte l’étendue de son spectromètre SMPS à 1 nm

Le 10/11/2015 à 11:43  

L'américain TSI, fabricant d'instruments de mesure pour l'identification et la caractérisation des particules, des matériaux, etc., vient de lancer la 3e génération de systèmes de granulométrie à balayage de mesure par mobilité (Scanning Mobility Particle Sizer ou SMPS) 3938, dont la particularité est de pouvoir mesurer la distribution de taille d’aérosols à 1 nm. Les applications sont la science des matériaux, la recherche atmosphérique et climatique, la recherche fondamentale des aérosols et la nucléation des particules, etc.

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