CIM : une édition 2017 réussie grâce aussi à l’exposition

Le 26/10/2017 à 10:08  
Cédric Lardière

La 18e édition du Congrès international de métrologie (CIM), organisée du 19 au 21 septembre dernier à Paris Expo – Porte de Versailles par le Collège français de métrologie (CFM), affiche une belle stabilité au niveau des participants, avec 840 conférenciers et exposants venant de 45 pays différents, soit 30 % de participants étrangers – ils étaient 813 en 2015 (+3,3 %) – et, surtout, une forte croissance de l’exposition.

La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.

Dans la même rubrique

Copy link
Powered by Social Snap