En partenariat avec le Centre technique des industries mécaniques (Cetim), le Collège français de métrologie (CFM) organise, le 5 juin 2019 à Paris, une journée technique sur le thème « Mesure des états de surface : un monde en évolution ». Cette mesure connaît en effet un changement de paradigme (1D à 2D), permis notamment par la démocratisation des mesures sans contact.
La lecture de cet article est payante.
Pour le lire abonnez-vous ou connectez vous.