Zeiss a dévoilé le nouveau Zeiss Metrotom 800 320 kV, un système de tomographie industrielle (CT) de pointe pour la mesure de composants complexes fabriqués à partir de matériaux à haute densité.

Grâce à sa puissante source de rayons X de 320 kV et à une conception système sophistiquée, il permet de réduire les temps de scan jusqu’à 75 % par rapport aux autres systèmes Metrotom de Zeiss. La haute tension de tube (320 kV, 500 W) et une taille minimale de foyer de 7 µm assurent une très haute qualité d’image et une précision de mesure fiable.

Le tomographe est idéal pour l’inspection d’un large éventail de composants d’une hauteur pouvant atteindre 470 mm, d’un diamètre de 500 mm et pesant jusqu’à 50 kg. Le logiciel intuitif Zeiss Inspect X-Ray regroupe l’acquisition des données, leur évaluation et leur analyse au sein d’une seule et même application. En outre, le module Zeiss Automated Defect Detection (ZADD) basé sur l’IA permet la détection automatique des défauts critiques, augmentant ainsi l’efficacité et réduisant les efforts humains nécessaires.