NI améliore les capacités de mesure RF du Semiconductor Test System

Le 29/09/2016 à 14:32  

NI annonce de nouvelles capacités RF dédiées à la transmission et à la réception haute puissance, à la prédistorsion numérique et au suivi d'enveloppe temps réel basé FPGA pour son STS (Semiconductor Test System).

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