NI améliore les capacités de mesure RF du Semiconductor Test System

Le 29/09/2016 à 14:32  

NI annonce de nouvelles capacités RF dédiées à la transmission et à la réception haute puissance, à la prédistorsion numérique et au suivi d'enveloppe temps réel basé FPGA pour son STS (Semiconductor Test System).

L'ajout de ports RF haute puissance est la dernière d'une longue série d'améliorations apportées au STS afin d’aider les fabricants de frontaux RF à répondre aux exigences de test étendues des circuits intégrés RF et des autres équipements intelligents, tout en contribuant à réduire les coûts.

Comme les ports RF sont disponibles dans un testeur parfaitement intégré au sein du STS, les coûts et les temps de développement de test RF peuvent être réduits sans sacrifier la précision ni les performances des mesures.

De plus, ce système intégré permet de s'affranchir de sous-systèmes RF complémentaires onéreux qui restent indispensables avec les équipements de test automatique traditionnels.

Les nouveaux ports RF pour le STS peuvent transmettre à +38 dBm et recevoir à +40 dBm au niveau des connecteurs, des performances de pointe que l'on ne retrouve dans aucune autre solution commerciale.

Enfin, le STS peut désormais effectuer des mesures de paramètres S à 26 GHz, du suivi d'enveloppe et de la prédistorsion numérique basée FPGA, et ce, avec un logiciel riche en fonctionnalités.

Ces caractéristiques font du STS la solution de test en production idéale pour les circuits imprimés RF nouvelle génération.

Plus d’informations sur www.ni.com/semiconductor/