Le capteur de mesure dimensionnelle Duo de Stil est le premier système du marché à intégrer le procédé confocal chromatique propriétaire et l'interférométrie spectrale en lumière blanche, permettant des mesures dimensionnelles de haute précision (rugosimétrie, vibrométrie et autres applications de contrôle en 3D) et des mesures de topographie.
• Fréquence de mesure : jusqu'à 2 000 Hz
• Gamme de longueurs d'onde : 400 à 900 nm
• Résolution spectrale : 0,6 nm/pixel
• Support de tous les types de matériau, opaque ou transparent, réfléchissant ou diffusant, toujours conforme à la norme ISO 25178
• Mesure de topographie dans une plage de 150 µ, mesure d'épaisseur sur des couches de 1 µm
• 2 sorties analogiques 0 - 10 V
• Interfaces RS-232 et Ethernet
• Dimensions : 376 x 363 x 114 mm pour un poids de 6 kg
• Offre logicielle comprenant des librairies de développement
• Version trio intégrant en plus l'analyse colorimétrique (à venir)
La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.