Des mesures au micron près… en pressant un seul bouton

Le 22/03/2011 à 9:11

Les appareils de la série IM de Keyence empruntent plusieurs avantages aux différentes solutions de mesure 2D disponibles sur le marché. Ils forment un nouveau type d’instrument réalisant toutes sortes de mesures au micron près, de manière entièrement automatique.

 

Impossible de dire s’ils ressemblent davantage à un projecteur de profil, à un microscope numérique, ou à une machine de vision à commande numérique. Avec les instruments de la série IM, Keyence propose une solution de mesure dimensionnelle totalement inédite, qui rassemble les avantages des trois types d’instruments. Au projecteur de profil, elle emprunte la simplicité d’utilisation. Pour réaliser une mesure, il n’y a qu’à poser la pièce sur la table de positionnement située sous la caméra, à appuyer sur un bouton, et à lire le résultat affiché devant soi, sur l’écran LCD de l’appareil. Celui-ci offre aussi le même type d’applications, puisqu’il est aussi bien destiné aux contrôles en bord de ligne qu’en laboratoire. Mais il y a une différence majeure. « Lorsqu’on utilise un projecteur de profil, l’influence de l’opérateur sur le résultat est relativement importante. Avec la série IM, en revanche, tout est automatique. La répétabilité des mesures est donc optimale», indique Cédric Jouan, responsable du support technique chez Keyence. Une répétabilité d’autant plus élevée qu’il n’y a pas d’éléments mobiles susceptibles d’avoir une influence sur le résultat. Les platines de positionnement, par exemple, sont fixes. Bien sûr, l’appareil ne devine pas tout seul les mesures qu’il doit réaliser. Il faut commencer par le paramétrer. Pour cela, l’utilisateur n’a pas besoin de PC. Il utilise une interface conviviale qui le guide, pas à pas, tout au long du réglage. Une fois le paramétrage effectué, l’appareil fonctionne de manière automatique. Il peut alors réaliser jusqu’à 100 mesures simultanées.
Utiliser les possibilités  de la vision
Là où les instruments de la série IM se rapprochent des microscopes numériques, c’est dans la précision de la mesure. Celle-ci s’élève en effet à 1 µm, soit beaucoup plus que la précision obtenue avec les projecteurs de profil habituels. L’appareil intègre un système de rétroéclairage, ainsi que deux objectifs télécentri-ques, qui induisent une grande profondeur de champ. Ainsi, «l’utilisateur peut mesurer tout type de pièces, jusqu’à une centaine de millimètres d’épaisseur», précise Cé-dric Jouan. Toutes les mesures sont ensuite enregistrées automatiquement dans le disque dur de 160 Go de l’appareil. Par ses possibilités et son principe de mesure, la série IM se rapproche aussi des machines de vision. Elle intègre bien sûr une caméra numérique, mais aussi un algorithme de recherche de formes qui “reconnaît” la pièce, quelles que soient sa position et son orientation. Grâce à la vision, l’appareil peut réaliser automatiquement une grande variété de mesures (longueurs, diamètres, rayons, pas de dentures, écartement entre plusieurs diamètres, coordonnées de points, etc.), y compris sur des pièces complexes. Les formes de chaque nouvelle pièce à mesurer sont mémorisées. Ainsi, lorsqu’on doit mesurer une pièce déjà enregistrée, il n’y a qu’à la poser sous la caméra et à lancer un mode de recherche. L’appareil la “retrouve” alors automatiquement, avec le paramétrage qui avait été effectué.
Parmi les autres caractéristiques, on notera aussi la présence d’un capteur de température. «Grâce à un système de compensation thermique, l’appareil garantit une linéarité de 5 µm sur une plage de température allant de 10 à 35°C», ajoute Cédric Jouan. La série IM offre par ailleurs un traitement subpixel (autrement dit avec une résolution meilleure que le pixel), pour améliorer l’analyse des contours de la pièce. Elle peut aussi réaliser des calculs statistiques, et enregistrer des valeurs de tolérance pour afficher directement un résultat “bon ou mauvais”. Quant au prix, la société assure qu’il se situe entre celui d’un projecteur de profil et celui d’un microscope numérique.
Marie-Line Zani-Demange

 

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