Système de vision pour le contrôle de wafers

Le 15/04/2007 à 0:00  

Le système de vision In-Sight 1721 que propose Cognex est destiné à la lecture de caractères et de codes (1D ou 2D) figurant sur les tranches de semi-conducteurs (wafers).
· Capteur CCD 1/3"
· Résolution : 1 024 x 768 pixels
· Distance de lecture : jusqu'à 80 mm
· Mémoire vive : 32 Mo
· Mémoire Flash : 16 Mo
· Eclairage à Leds rouges intégré
· Port Ethernet
· Température d'utilisation : de 10 à 45 °C
· Masse : 400 g

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