Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 02 Février 2016

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 2 février, à Paris, une journée technique intitulée « Validation des méthodes, besoins et optimisation ». Une méthode d’analyse est définie par de multiples caractéristiques (limites de détection et de quantification, justesse, linéarité, fidélité, sensibilité, sélectivité, robustesse…) qui dépendent de divers facteurs (matrice de l’échantillon, moyens mis en œuvre, réactifs utilisés, etc.) Il est donc nécessaire de valider les méthodes mises en œuvre afin de déclarer leur aptitude à répondre aux besoins. L'objectif de cette journée est de démystifier la validation de méthode, clarifier le vocabulaire spécifique à cette activité, présenter des méthodes d’évaluations de quelques caractéristiques spécifiques et partager des retours d’expérience. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

Lieu : Paris
Contact : http://cfmetrologie.com/journee-technique.html

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