Agenda

Journée technique du CFM

Mercredi 01 Février 2017, 08:00 - 17:00

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 1er février 2017 une journée technique intitulée « Surveillance de son parc d’enceintes climatiques et thermostatiques ». L'objectif de cette journée est de faire le point sur la caractérisation et la surveillance les enceintes, les fours, les étuves, les thermocycleurs, les autoclaves et autres équipements climatiques. D’autant qu’ils sont largement utilisés dans les industries pharmaceutique, mécanique, électronique et agroalimentaire, ou dans des laboratoires soumis aux contraintes des référentiels normatifs sectoriels. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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Device Under Test, composant ou matériel sous test. On trouve ce sigle sur les schémas dans la presse ou les documentations techniques anglo-saxones.