Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 14 Mars 2017

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 14 mars février 2017 une journée technique intitulée « Les incertitudes de mesure : quelle influence pour l’industrie ? ». L'objectif de cette journée est de faire un état des lieux des méthodes actuelles à notre disposition pour estimer l’incertitude de mesure et de montrer, par des exemples, son influence auprès des industriels. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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Journées de la mesure 2020
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Device Under Test, composant ou matériel sous test. On trouve ce sigle sur les schémas dans la presse ou les documentations techniques anglo-saxones.