Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 14 Mars 2017

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 14 mars février 2017 une journée technique intitulée « Les incertitudes de mesure : quelle influence pour l’industrie ? ». L'objectif de cette journée est de faire un état des lieux des méthodes actuelles à notre disposition pour estimer l’incertitude de mesure et de montrer, par des exemples, son influence auprès des industriels. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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LabVIEW
Environnement de développement graphique d'applications d'instrumentation et d'automatismes, inventé par National Instruments et adopté par une grande partie des fournisseurs d'instrumentation électronique et de cartes d'acquisition de données.