Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 14 Mars 2017

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 14 mars février 2017 une journée technique intitulée « Les incertitudes de mesure : quelle influence pour l’industrie ? ». L'objectif de cette journée est de faire un état des lieux des méthodes actuelles à notre disposition pour estimer l’incertitude de mesure et de montrer, par des exemples, son influence auprès des industriels. Comme toujours, une large place sera réservée aux échanges avec les intervenants.

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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Highly Accelerated Stress Screening : il s’agit d’une méthode d’essais aggravés, qui tient lieu de déverminage accéléré en phase de production (profil d’application déterminé à partir du Halt).
Les méthodes Halt et Hass trouvent toutes deux leur origine au milieu des années 60 et la paternité en reviendrait à l’Américain Gregg K. Hobbs.