Agenda

Congrès international de métrologie (CIM)

Du Mardi 19 Septembre 2017 -  08:00
au Jeudi 21 Septembre 2017 - 17:00
Dans le cadre de l’industrie du futur, il faut disposer de mesures fiables, d’où le rôle que peut jouer la mesure dans cette évolution. C’est la thématique principale de la 18e édition du Congrès international de métrologie (CIM) qui misera une nouvelle fois sur la combinaison de sujets scientifiques et plus industriels, de conférences et d’une exposition, de participants français et internationaux. Organisée par le Collège français de métrologie (CFM), la 18e édition du CIM se déroulera du 19 au 21 septembre prochain, à Paris Expo Porte de Versailles, en parallèle du salon Enova. Elle comprendra trois jours de conférences scientifiques et techniques sur des thèmes aussi variés que les mesures thermiques, la débitmétrie, les incertitudes, les énergies, les grandeurs mécaniques, la formation ou la nanométrologie, en parallèle du Village Métrologie organisé sur le salon Enova en partenariat avec GL events Exhibitions.
Lieu : Paris Expo porte de Versailles
Contact : www.cim2017.com/

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SWR
Standing Wave Ratio, taux d’ondes stationnaires (TOS). Le phénomène des ondes stationnaires se produit notamment sur les lignes de transmission à hautes fréquences, lorsqu’il y a des désadaptations d’impédance entre le câble et l’émetteur/récepteur.