Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 06 Février 2018, 08:00 - 17:00
Les Journées techniques du Collège français de métrologie (CFM) regroupent de 40 à 70 participants sur un thème choisi. Participants et intervenants passent une journée ensemble pour un maximum de partage de connaissances, des retours d’expériences, des comparaisons, etc. La journée du 6 février 2018 à Paris aura pour thème : « Le passage à l’ISO 9001:2015 : quels retours ? ». La version 2015 de la norme ISO 9001, d’application obligatoire en 2018, a fait son apparition avec de nouvelles exigences, en particulier le
pilotage par la maîtrise du risque. La fonction métrologie est impactée par cette nouvelle version et doit donc s’adapter.
Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/fr/journee-technique

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12/11/2019 - 15/11/2019
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Flicker
Sur les installations électriques, la mise en marche de charges variables, comme des fours à arc, des imprimantes laser, des micro-ondes ou des systèmes de conditionnement d'air provoquent des variations rapides de tensions électriques : ce phénomène est appelé papillotement et il est quantifié par la valeur du flicker. Celui-ci est en réalité un calcul statistique issu de la mesure des variations rapides de tension et défini par la norme EN 61000-4-5. Pour l'homme, le papillotement est visible au niveau de la lumière d'éclairage, ce qui peut avoir des conséquences négatives (maux de tête, irritabilité, etc.).
Le flicker est un phénomène très variable dans le temps et son impact sur l'homme et sur les équipements n'est pas très facile à définir. Pour cette raison, deux valeurs de flicker ont été définies : le flicker courte durée (Pst), qui consiste à observer le flicker sur une période de 10 minutes, et le flicker longue durée (Plt), pour lequel la période de mesure est de 2 heures.