Agenda

Journée technique du CFM

Jeudi 16 Mai 2019, 08:00 - 17:00
Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 16 mai prochain une journée technique intitulée "Sous-traitance industrielle : besoins et exigences ?"
La fabrication de pièces ou sous ensemble pour un client peut s'avérer complexe. En effet, il faut savoir s’adapter, se mettre d’accord sur un cahier des charges tout en gardant si possible de la flexibilité. Pour démontrer la qualité des produits fabriqués, il est indispensable d’effectuer des capabilités, faire des études de répétabilité/reproductibilité afin de pouvoir identifier les sources d'incertitudes et évaluer qualitativement son processus de mesure. Certains référentiels et notamment l’IATF 16949 dans le domaine de l’automobile définissent des exigences spécifiques.
La journée du 16 mai aura pour objectif d’apporter des orientations et réponses dans le domaine et s'adresse à toutes entreprises de tous secteurs. Que faut-il mettre en place pour garantir la qualité au meilleur coût, comment définir les besoins, comment interpréter les exigences clients et normatives, et comment y répondre ?
Lieu : Paris
Contact : http://www.cfmetrologie.com/fr/journee-technique

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Théorème de Shannon
Il concerne la numérisation d’un signal analogique. La numérisation consiste à échantillonner le signal à une fréquence donnée et à attribuer une valeur numérique à chacun des échantillons ainsi obtenus. Le théorème de Shannon dit que si on veut être sûr de ne perdre aucune informatique sur le signal, il faut que la fréquence d’échantillonnage soit au moins le double de la fréquence maximale contenue dans le signal. Ainsi, si un signal 10 Hz contient des harmoniques jusqu’au rang 20 (la fréquence maximale est alors de 20 x 10 = 200 Hz), il doit être échantillonné à une fréquence qui est au moins le double de 200 Hz, soit 400 Hz minimum.