Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 03 Décembre 2019, 08:00 - 17:00

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 3 décembre 2019 une journée technique intitulée « Nouvelles technologies de rayons X pour la mesure ». L’arrivée de la fabrication additive a permis d’ouvrir un champ de possibilités très important pour l’industrie. Cette nouvelle technologie apporte aussi de nouvelles questions. Dans l’industrie plus « classique », on assemble plusieurs pièces pour en fabriquer une, où chaque partie peut être mesurée par des instruments de mesure conventionnelle. Avec la fabrication additive, la pièce finale est construite en un bloc. La mesure devient plus complexe et les nouvelles technologies de mesure apportent des solutions. En fonderie, ces systèmes de mesure permettent par exemple de vérifier le taux de matière, l’homogénéité d’une pièce. Mais quelle exactitude ont ces instruments ? Comment fonctionnent-t-ils ? Quelle sécurité ? Ce sont autant de questions auxquelles cette journée a pour objectif de répondre.

www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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