Agenda

Journée technique du CFM

Mardi 03 Décembre 2019, 08:00 - 17:00

Le Collège français de métrologie (CFM) organise le 3 décembre 2019 une journée technique intitulée « Nouvelles technologies de rayons X pour la mesure ». L’arrivée de la fabrication additive a permis d’ouvrir un champ de possibilités très important pour l’industrie. Cette nouvelle technologie apporte aussi de nouvelles questions. Dans l’industrie plus « classique », on assemble plusieurs pièces pour en fabriquer une, où chaque partie peut être mesurée par des instruments de mesure conventionnelle. Avec la fabrication additive, la pièce finale est construite en un bloc. La mesure devient plus complexe et les nouvelles technologies de mesure apportent des solutions. En fonderie, ces systèmes de mesure permettent par exemple de vérifier le taux de matière, l’homogénéité d’une pièce. Mais quelle exactitude ont ces instruments ? Comment fonctionnent-t-ils ? Quelle sécurité ? Ce sont autant de questions auxquelles cette journée a pour objectif de répondre.

www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

Lieu : Paris
Contact : www.cfmetrologie.com/journee-technique.html

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USB
Universal Serial Bus, bus universel série. Imaginé il y a une dizaine d’années, le bus USB équipe aujourd’hui la totalité des PC, où il a remplacé les bus série et parallèle pour raccorder les claviers, souris, scanners et imprimantes. Plusieurs périphériques (jusqu’à 127) peuvent être connectés sur un même port USB. Le standard USB a été conçu pour être simple d’emploi : tout périphérique connecté est reconnu automatiquement par l’ordinateur, la connexion/déconnexion peut se faire “à chaud” (sans passer par la fastidieuse procédure d’avoir à éteindre l’ordinateur).
Au début conçu pour les périphériques lents, le bus USB n’a cessé de voir son débit augmenter et il a de ce fait freiné l’éclosion de FireWire, bus parallèle conçu pour les périphériques rapides. Son débit est passé de 12 Mbit/s au départ à 480 Mbit/s aujourd’hui.
USB est désormais très répandu sur les équipements industriels (périphériques d’acquisition de données, pilotage d’instruments, notamment).