Le Congrès international de métrologie et Mesurexpovision se dérouleront conjointement

Le 03/11/2010 à 0:00  
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La manifestation Mesurexpovision et le Congrès international de métrologie (CIM) seront organisés conjointement du 3 au 6 octobre 2011 à Paris, Porte de Versailles. Le Collège français de métrologie (CFM), organisateur du CIM, et GL events exhibitions, organisateur de Mesurexpovision, ont décidé d’unir leurs efforts pour créer un événement de dimension européenne consacré à la mesure. Mesurexpovision est le « salon de référence des professionnels de la mesure, du test et des solutions de vision en France » et le Congrès international de métrologie est le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure : experts, organismes, fabricants et utilisateurs industriels. L’appel à conférences est en cours et le CFM recevra jusqu’au 15 décembre 2010 les propositions de sujet.
- 3 novembre 2010 -