Le contrôle de défauts par ultrasons fait une fois de plus parler de lui... Après l’émergence des méthodes d’inspection sans contact et sans milieu couplant, c’est l’avènement de techniques d’imagerie qui vient bouleverser ce petit monde. Utilisées seules ou en complément d’autres méthodes, ces techniques permettent d’obtenir des images de la géographie interne des matériaux, et de localiser rapidement les éventuels défauts. Sous le nom de C-scan, de TOFD ou de Phased Array, elles diffèrent entre elles par leur champ d’applications et par les moyens nécessaires à leur mise en œuvre. Petit tour d’horizon de méthodes encore souvent méconnues, mais en plein devenir…
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