CONGRÈS INTERNATIONAL DE MÉTROLOGIE (CIM)

Le 11/09/2017 à 0:00  

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D ans le cadre de l'industrie du futur, il faut disposer de mesures fiables, d'où le rôle que peut jouer la mesure dans cette évolution. C'est la thématique principale de la 18 e édition du Congrès international de métrologie (CIM) qui misera une nouvelle fois sur la combinaison de sujets scientifiques et plus industriels, de conférences et d'une exposition, de participants français et internationaux. Organisée par le Collège français de métrologie (CFM), cette édition se déroulera du 19 au 21 septembre prochain, à Paris Expo - Porte de Versailles, en parallèle du salon Enova.

Elle comprendra trois jours de conférences scientifiques et techniques sur des thèmes aussi variés que les mesures thermiques, la débitmétrie, les incertitudes, les énergies, les grandeurs mécaniques, la formation ou la nanométrologie, en parallèle du Village Métrologie organisé sur le salon Enova en partenariat avec GL events Exhibitions.

Collège français de métrologie (CFM) www.cim2017.com

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