Dix conseils pour optimiser la couverture des tests

Le 19/05/2010 à 18:51  
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La technique de test dite “boundary scan” a été normalisée en 1990. Elle était promise à un bel avenir du fait qu’elle donnait accès à des points sur la carte inaccessible au testeur in situ. Cependant, pour tirer pleinement parti du test boundary scan, il est impératif d’intégrer celui-ci dès le stade de la conception plutôt que de l’ajouter a posteriori. Pour améliorer la couverture des défauts et la testabilité des circuits, il faut respecter certaines procédures. Voici dix conseils proposés par Jtag Technologies, qui conduisent à des gains de temps et facilitent le travail aussi bien lors des tests de prototypage et de conception que des tests de production.

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