La métrologie des états de surface est à un tournant de son histoire. Dans quelques mois sera en effet publiée la norme ISO 25178 portant sur la caractérisation des états de surface en 3D. Le nouveau document permettra de décrire les surfaces à l’aide de paramètres normalisés, et de mieux comprendre les phénomènes liés à leur microgéométrie. Pour les fabricants, les centres de recherche et les industriels qui ont participé aux travaux prénormatifs, c’est l’aboutissement de plusieurs années d’études. Nouveaux paramètres, nouvelles méthodes de calcul, nouveaux filtres… les changements sont nombreux. François Blateyron, directeur R et D chez Digital Surf, a participé à l’élaboration de la nouvelle norme. Il nous explique ici ce qui va changer.
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