T rois jours de conférences scientifiques et techniques sur des thèmes aussi variés que les mesures thermiques, la débitmétrie, les incertitudes, les énergies, les grandeurs mécaniques, la formation ou la nanométrologie, en parallèle du Village Métrologie orga-nisé sur le salon Enova en partenariat avec GL events Exhibition. C'est donc du 19 au 21 septembre prochain, à ParisExpo-Porte deVersailles, que se déroulera la 18 ^e édition du Congrès international de métrologie (CIM), organisée par le Collège français de métrologie (CFM).

constatons une dynamique importante de la part de tous les acteurs (fabricants, distributeurs, sociétés de services et organismes de formation) pour venir exposer. Ce qui se traduit, début mai, par une surface duVillage Métrologie d'environ 800 m ² cette année (soit 70 stands),au lieu d'un peu plus de 700 m ² en 2015 , se réjouit Pierre Claudel (Cetiat), coprésident du CIM avec Miruna Dobre (SPF Economie). À noter que le CIM s'ouvre désormais le mardi matin et non plus le lundi après-midi, comme cela était le cas ces dernières années ».

En termes de conférenciers, l'objectif de l'organisateur s'établit au-delà de 800 personnes, « le Graal serait d'at-teindre les 1 000 personnes », poursuit-il.

Autre nouveauté par rapport à l'édition précédente, un pavillon international verra le jour dans lequel les visiteurs retrouveront les organismes nationaux liés à Euramet ( E u ro p e a n Association of National Metrology Institutes). « Il s'agit d'ouvrir un peu plus l'exposition, encore très franco-française, à l'international, sachant que près de 30 % des conférenciers viennent de l'étranger », explique Pierre Claudel.

Trois jours d'échanges enrichissants

Pour l'édition 2017, le CIM continue dans sa volonté de s'adresser à un public plus large, plus industriel. « La métrologie étant un domaine qui évolue vite, développer des thématiques sur les pratiques les plus récentes, telles que la technologie 3D, et faire en sorte que les gens échangent sont particulièrement importants. Et c'est aussi un moyen de garder les emplois en France : le tissu académique est le socle sur lequel repose l'expertise des industriels », insiste Cosimi Corleto (Stil), nouveau président du CFM.

En plus des six tables rondes (« Déclaration de confor-mité: nouvelle ISO 17025» et « La métrologie pour l'industrie pharmaceutique», le mardi, «Quelle mesure pour la qualité de l'eau ?» et « Mesure dynamique et usine du futur: l'atout métrologie», le mercredi, ainsi que «Quel progrès en me-sure à l'échelle nano ?», le jeudi) et des deux visites techniques (Observatoire de Paris et plateforme Doseo), la thématique mise en avant cette année est liée à l'industrie du futur. « Dans le cadre de l'évolution très forte de l'industrie vers l'automatisation, la “cobotisation”,la collecte des données,via des réseaux de capteurs, est l'un des piliers de la numérisation de l'industrie.Pour rendre plus autonome une ligne de production par exemple, il faut disposer de mesures fiables – la finalité du processus est de prendre des décisions. On comprend aisément le rôle que peut jouer la mesure », explique Pierre Claudel.

Un autre sujet complémentaire est l'usage des drones dans les applications de surveillance et de mesure (table ronde du jeudi intitulée « Drone et surveillance : quelle place pour la mesure ? »). Les enjeux sont importants pour la mesure, en termes de charge utile et de recherche d'instruments plus fiables et/ou plus précis. Il y a donc un vrai potentiel de développements. « La session plénière sur le thème “Mesurer pour inventer le futur” abordera la révision du SI (Joachim H. Ullrich du PTB), la recherche commune européenne en métrologie au service de l'industrie et de la société (Beat Jeckelmann d'Euramet), et la métrologie dans la conquête spatiale (Christophe Salomon du CNRS-Laboratoire Kastler Brossel) », conclut Pierre Claudel.

Dans le cadre de l'industrie du futur, il faut disposer de mesures fiables, d'où le rôle que peut jouer la mesure dans cette évolution. C'est d'ailleurs la thématique principale de la 18 ^e édition du Congrès international de métrologie (CIM).