Le CIM prend le tournant de la métrologie 4.0

Le 09/07/2019 à 17:00  
default-image-3103

Richesse du programme des sessions plénières, des conférences orales et de posters, richesse des échanges sur les stands du Village Métrologie, au sein du salon Measurement World, ou sur la zone de démonstration pour start-up. La 19 e édition du Congrès international de métrologie (CIM) devrait accueillir 850 congressistes industriels et académiques.

C. Lardière

À l'image de ses deux co-présidents,Jenny Hully, Head of Transformation and Change, Programme Director du National Physical Laboratory (NPL), et Daniel Jullien, président de DigiPlant Consulting, le Congrès international de métrologie,orga-nisé par le Collège français de métrologie (CFM), plus connu désormais sous son acronyme CIM et dont la 19 e édition se déroulera du 24 au 26 septembre 2019 à Paris Expo-Porte deVersailles, réunira une nouvelle fois le monde académique et les industriels, ainsi que les communautés française et internationale de la mesure.

« Si nous étions déjà satisfaits du contenu du congrès lors de la précédente édition il y a deux ans, le programme sera encore plus riche cette année, car nous avons reçu plus de papiers soumis (+ 15 %). Cela nous permet ainsi d'être à la fois plus sélectifs et de pouvoir proposer plus de sujets.Nous avons en effet ajouté des conférences orales en parallèle des sessions posters, mais sur des sujets très spécifiques et très techniques pour ne pas concurrencer ces sessions plus générales », explique Sandrine Gazal, directrice du CFM.

Pour illustrer cette richesse du programme, les thèmes « Données, représentation, modèles et connaissances : vers une métrologie enrichie » et « L'intelligence artificielle (IA) en production: comment l'apprentissage machine et les technologies de mesures'in-fluencent déjà», seront abordés lors de la session plé-nière, respectivement par le professeur Francisco Chinesta (Arts et métiers ParisTech) et MarkusAhorner (Ahorner & Partner).

« Les travaux sur la métrologie du futur ont continué depuis 2017 et les technologies commencent aujourd'hui à être mises en pratique. Contrairement à une idée préconçue, 70 % des congressistes viennent de l'industrie (entreprises utilisatrices et fabricants d'équipements), tous secteurs confondus, les représentants académiques n'étant “que” 30 % », rappelle Sandrine Gazal. En 2017, le CIM avait accueilli 850 congressistes représentant 45 pays différents (environ 35 % d'étrangers).

« La richesse de la manifestation se trouvant sur place et non à l'extérieur, nous avons décidé d'arrêter les visites techniques,qui représentaient aussi une organisation assez lourde, au profit de la création d'une zone de démonstration pour des start-up,au cœur du Village Métrologie, d'une surface de 1 200 m 2 (+ 20 % par rapport à l'édition 2017) et qui se trouvera dans le salon Measurement World », indique Sandrine Gazal. Au sein de l'espace Start'Hub, quatorze jeunes pousses auront ainsi l'opportunité de présenter de nouvelles technologies dans les domaines du test et de la simulation, des objets connectés industriels (IIoT), de la réalité augmentée (AR), de l'IA pour le traitement de signal/d'image, des capteurs d'image, de la caractérisation de surface, du CND, etc.

La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.

Dans la même rubrique

Copy link
Powered by Social Snap