Le microscope à force atomique (AFM), un outil précieux pour mesurer les états de surface avec une grande précision

Le 01/04/2005 à 0:00  
default-image-3103

Si la microscopie à force atomique est la seule méthode permettant de réaliser une cartographie tridimensionnelle ou de caractériser les propriétés physiques d’un matériau à l’échelle nanométrique, c’est aussi l’une des plus délicates à mettre en œuvre. Son principe repose sur la détection des forces atomiques s’exerçant entre la surface de l’échantillon et un palpeur très particulier : une pointe d’à peine quelques micromètres de hauteur… Celle-ci joue un rôle primordial. Sa forme, son orientation, ou encore la nature de son revêtement vont conditionner la réussite de l’application. Gilbert Gillmann, responsable de NanoAndMore France, revient ici sur les nombreux critères à prendre en compte dans le choix d’une pointe, et rappelle les bases d’une méthode encore souvent mal

La lecture de cet article est payante.
Connectez-vous ou abonnez-vous pour y accéder.

Dans la même rubrique

Copy link
Powered by Social Snap