Le test in-situ relève le défi du test des cartes comportant des composants alimentés en basse tension

Le 01/10/2003 à 0:00  
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Les circuits intégrés travaillent à des tensions de plus en plus basses (certains fonctionnent aujourd’hui sous 1,2 V, on parle de 0,8 V…) ce qui pose de réels problèmes lors du test in-situ des cartes incorporant de tels composants. Leur manque de précision conduit souvent à des erreurs de diagnostic. Mais, surtout, le courant de forçage trop élevé ou mal contrôlé de ces testeurs peut conduire à la destruction du composant. Teradyne explique ici le pourquoi du comment et donne quelques critères sur lesquels il faut plus particulièrement se pencher au moment du choix d’un testeur in-situ pour technologies basse tension.

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