Présentation de trois techniques pour synchroniser les mesures effectuées sur un système de test

Le 01/06/2004 à 0:00  
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Dans toute acquisition de données sur ordinateur ou système PCI ou VXI, il y a souvent plusieurs horloges d’échantillonnage, souvent indépendantes, des longueurs de câbles différentes entre signaux, etc. Cela peut poser des problèmes de synchronisation, surtout lorsque l’on travaille à des fréquences d’échantillonnage élevées. National Instruments décrit ici trois techniques différentes pour résoudre ces problèmes.

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