Paola Fisicaro, docteur en chimie et HDR, et Yves Hermier, docteur en physique de l'université d'Orsay et du Cnam, ont…
Le Congrès international de métrologie (CIM) se tiendra du 21 au 24 septembre 2015, à Paris, en même temps que le…
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L’éditeur français a prévu quatre étapes pour la deuxième partie de son Tour de France : Toulouse, Lyon, Nantes et Paris.
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Cette brochure s’adresse à tous les préventeurs de terrain qui sont amenés à identifier des opérations potentiellement exposantes aux nanomatériaux…
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La gestion des équipements climatiques, les mesures électriques en RF et HF, la gestion de la traçabilité des mesures dans…
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Avec les rachats de Master Metrology et des actifs de Gefran, le spécialiste français en étalonnage et en maintenance poursuit…
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Les industriels disposent d’une aide pour la classification des substances et mélanges dangereux à la nomenclature des ICPE, suite aux…
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