«Lamétrologie4.0seraun uneentreprisequipasseraitccompagnementpour unsystèmeconnecté»

Le 01/09/2015 à 15:00  

H A quelques jours de l'ouverture de la 17e édition du Congrès international de métrologie (CIM), qui se tiendra du 21 au 24 septembre prochain à Paris, Porte de Versailles, Mesures est allé à la rencontre des deux coprésidents de l'édition 2015 pourconnaîtreleurvisionsurlamétrologieetsonavenir.InterviewcroiséeentreJennyHully,HeadofMetrologyProgrammes au National Physical Laboratory (NPL), et Pierre Claudel, directeur des essais, des étalonnages et de la certification au Centre technique des industries aérauliques et thermiques (Cetiat) et vice-président du Collège français de métrologie (CFM), sur le concept de métrologie 4.0, le rôle que peut jouer la métrologie dans les nanotechnologies, les biotechnologies, etc.

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