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Le 14/12/2018 à 14:00  

Les méthodes de maîtrise statistique des processus (SPC) tiennent encore une place prépondérante chez les OEM. Elles sont mises en œuvre pour le contrôle de procédés de fabrication continue, pour calculer des valeurs d'alerte et pour détecter la non-conformité des paramètres du process.

L plique l'éditeur danois Virinco. es méthodes de maîtrise statistique des processus ( Statistical Process Control ou SPC) sont apparues dans les années 1920, afin de répondre aux exigences de production de l'époque. L'un de leurs objectifs est de permettre de détecter précocement des dysfonctionnements et, donc, d'y remédier rapidement et de procéder à des améliorations. Les limitations des méthodes de SPC proviennent en fait des technolo-gies de l'information (IT), un paysage complètement différent de celui d'aujourd'hui. Les méthodes de SPC disposaient en effet d'un volume d'informations bien moindre que celui que peuvent fournir aujourd'hui les systèmes de production modernes. En se référant simplement à la fameuse la loi de Moore, il est évident que la complexité et les performances des technologies informatiques ont depuis considérablement évolué, de même que celles des produits électroniques fabriqués.

De fait,les mesures collectées à l'époque lors des différentes phases de fabrication sont incomparables tant en nombre, en diversité et en complexité à celles traitées aujourd'hui par les processus de production. Compte tenu de cette complexité croissante ainsi que d'autres facteurs tels que l'augmentation des volumes de production, liée notamment à la mondialisation, il en résulte que la quantité et le type de données à prendre en compte n'ont aujourd'hui rien à voir avec ceux qui étaient en jeu dans les années 1920.

Les méthodes de SPC tiennent encore une place prépondérante chez les OEM ( Original Electronics Manufacturers ). Elles sont mises en œuvre pour le contrôle de procédés de fabrication continue, pour calculer des valeurs d'alerte et pour détecter la non-conformité des paramètres du process. En théorie, le dépassement de valeurs limites permet d'avertir d'une dégradation du process. Mais la théorie reste bien «théorique». Une méthode de SPC repose sur un postulat de base selon lequel l'industriel est en mesure d'éliminer ou de prendre en compte les variations attribuables à une cause commune du processus (1).Toutes les autres variations sont donc considérées comme résultant d'une cause particulière. Ce sont donc les paramètres auxquels l'industriel doit s'intéresser alors qu'ils commencent à dériver.

Un produit électronique peut au-jourd'hui comporter des centaines de composants. Sa conception évoluera sensiblement au fil du temps, notam-ment en raison de l'obsolescence des composants qu'il embarque. Le produit sera soumis à différents tests au cours du processus d'assemblage, son firmware sera mis à jour régulièrement, de même que les applications logicielles de test. Les opérateurs, la variation de facteurs environnementaux, ainsi que d'autres éléments auront une influence sur le process de fabrication et de test.

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