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  • Revue Mesures
Le 01/05/2001 à 0:00 par La Rédaction

Débitmétrie: le tube de Pitot n'a pas encore dit son dernier mot

Que reste-t-il au tube de Pitot ? Son prix, son côté pratique -pas besoin de tronçonner le conduit- et une…

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Le 01/05/2001 à 0:00 par La Rédaction

Des courants porteurs enfin vraiment porteurs ?

Utiliser le réseau électrique comme support de transmission d’informations ? L’idée d’utiliser les courants porteurs n’est pas nouvelle et elle…

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  • Revue Mesures
Le 01/04/2001 à 0:00 par La Rédaction

SPC : bien identifier le besoin avant de choisir

Choisir un progiciel de Maîtrise Statistique des Procédés (MSP) ou de la qualité d’une fabrication (SQC) n’est pas une mince…

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Le 01/04/2001 à 0:00 par La Rédaction

Reportage chez Sanofi Synthelabo où un bus FF-H1 veille sur les émissions de COV

Les bus de terrain de process (Profibus PA et Fieldbus Foundation) ont beaucoup de mal à s'imposer dans les usines,…

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Le 01/04/2001 à 0:00 par La Rédaction

CND par ultrasons : le "sans contact" est techniquement prêt, mais il a du mal à convaincre

L\'échographie par ultrasons est une des méthodes les plus répandues pour détecter les défauts internes d\'une pièce ou examiner l\'intégrité…

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Le 01/04/2001 à 0:00 par La Rédaction

GUIDE D'ACHAT Les techniques de test de cartes font bon ménage

L’augmentation de la densité des cartes électroniques et l’arrivée de nouvelles technologies de composants (CMS, BGA…) rendent le test électrique…

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Le 01/03/2001 à 0:00 par La Rédaction

GUIDE D’ACHAT Les mesures de niveau

Les technologies de mesure de niveau évoluent lentement. Les mesures par pression restent en tête. Les méthodes sans contact, notamment…

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Le 01/03/2001 à 0:00 par La Rédaction

Reportage chez Clemessy sur l’utilisation d’un superviseur sur un banc d’essai d’équipements aéronautique

Face au succès de son activité bancs d’essais pour applications aéronautiques et spatiales, Clemessy a décidé de standardiser ses solutions,…

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  • Revue Mesures
Le 01/03/2001 à 0:00 par La Rédaction

Une méthode optique originale pour mettre en évidence les défauts de surface, même pour des surfaces réfléchissantes

Pour caractériser l’aspect d’une surface, les méthodes optiques traditionnelles s’appuient sur la profondeur du défaut. Une nouvelle méthode, mise en…

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Le 01/02/2001 à 0:00 par La Rédaction

Etalonnage en température : les mini-cellules points fixes descendent dans l’industrie

Les mini-cellules points fixes offrent désormais aux industriels une nouvelle méthode d’étalonnage des capteurs de température, avec une meilleure exactitude…

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Le 01/02/2001 à 0:00 par La Rédaction

Le microscope à force atomique permet de réaliser des mesures de nanodureté

Pour mesurer la dureté d’un matériau, une pointe (un indenteur) est appliquée avec une charge bien définie sur la surface…

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Le 01/02/2001 à 0:00 par La Rédaction

Les tendances sur les régulateurs de tableau PID

Ce double article présente les dernières évolutions des régulateurs de tableau. Le premier article aborde des généralités. Les régulateurs de…

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Le 01/02/2001 à 0:00 par La Rédaction

Le contrôle avancé, une affaire moins compliquée qu'il n'y paraît

Fisher-Rosemount a organisé récemment une journée d’information sur le contrôle avancé, ouverte à tous et donc à ceux qui ne…

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Juin 2025

Métrologie portable : quand la mesure s'invite au coeur de la production

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@ 2025 Mesures est une publication des Editions Fitamant Technologies, SARL. Siège social : 10 rue de Penthièvre, 75008 Paris. Rédaction : 2 rue Félix Le Dantec CS 62020 – 29018 QUIMPER CEDEX. N° CPPAP : 0529 T 85087. Représentant/Directeur de la publication : Jacques FITAMANT - Directeur délégué : Mathieu FITAMANT - Directeur de la rédaction : Pascal COUTANCE.

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